Hintergrund des erstmaligen Besuchs von Randall R. Rader am vergangenen Wochenende war der fachliche Austauch mit den deutschen Kollegen. Rader ist Chief Judge des US Court of Appeals for the Federal Circuit in Washington.
Das Gericht des 62-Jährigen ist zuständig für Berufungen gegen alle Urteile US-amerikanischer Gerichte in Patentverletzungssachen. Düsseldorf hingegen ist der wichtigste Gerichtsstandort für Patentverletzungssachen in Europa. Beim dortigen Landgericht (LG) gehen im Jahr etwa 600 neue Patentsachen ein. Die Gerichte werden in der Fachwelt daher als Weltpatentgerichte bezeichnet.
Dabei sei der Besuch von Randall Rader eine große Ehre für den Patentgerichtsstandort Düsseldorf und ein Beweis für sein hohes Ansehen in der Welt, so Christian Harmsen von der Anwaltskanzlei Bird & Bird, der den Besuch von Rader initiiert hatte.
Sowohl in den USA als auch in Deutschland wird vor allem über Patente in den Bereichen Elektronik, Life Science und Mechanik gestritten. Insbesondere die wirtschaftlich wichtigen Patentschlachten werden oftmals parallel in beiden Ländern geführt.
Deutsche Verfahrenspraxis hat Modellcharakter für die USA
Am Samstag nahm Rader an einer Veranstaltung der Vereinigung für gewerblichen Rechtsschutz und Urheberrecht (GRUR) im Industrie-Club teil. In Gegenwart von Landesjustizminister Thomas Kutschaty referierte der amerikanische Jurist vor über 100 Zuhörern aus Wissenschaft, Industrie und Praxis über aktuelle Entwicklungen im US-Patentrecht.
In der anschließende Paneldiskussion mit Peter Meier-Beck, dem Vorsitzenden Richter des Patentsenats des Bundesgerichtshofs, unter Leitung von Wolfgang von Meibom von der Anwaltskanzlei Bird & Bird drückte Rader seine hohe Wertschätzung für den Patentstandort Düsseldorf aus. Er sieht die hiesige Verfahrenspraxis im Hinblick auf Dauer, Kosten und Effizienz als Vorbild für die von ihm geplante Modernisierung der US-amerikanischen Verfahrenspraxis.
Am Sonntag führte der Vorsitzende Richter des Patentsenats des Oberlandesgerichts Düsseldorf, Thomas Kühnen, den hochrangigen Gast durch das Hauptgebäude des Gerichts. Sowohl Kühnen als auch Rader äußerten die Überzeugung, dass auch die beiden in Patentsachen weltweit führenden Gerichtssysteme viel voneinander lernen könnten.
sh/LTO-Redaktion
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Gerichte: Oberster US-Patentrichter besucht Düsseldorf . In: Legal Tribune Online, 24.05.2011 , https://www.lto.de/persistent/a_id/3352/ (abgerufen am: 26.04.2024 )
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